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迎接八天线LTE测试的挑战

时间:2015-08-12  来源:扁平线圈电感厂家  点击:


研发测试需要能够灵活地控制信道,从而进行故障诊断。加上几何信道建模,实时衰落使得工程师能够对一项或多项信道参数进行调节,并且立即获得响应。这种“反复试验的故障诊断”方法在产品的开发上是通用的,而且已被广泛用于各类系统性能测试中。

由于整个行业都在为实现更新的无线应用而追求更高的数据速率,所用的天线数量和先进天线技术的复杂性都必然会与日俱增。这种趋势将对用先进天线技术对LTE和LTE-A进行测试构成巨大的挑战。因此,有关测试场景的新的思维方法和方式都将不可或缺。

八天线系统可以将2×2 MIMO系统所用的射频信道数量提高四倍,而研究人员已经开始探讨需要2×2系统8倍天线组件数量的技术。如果在实验室中复现互易式高天线数测试场景,将会面临空间和其它资源方面的诸多严重制约。与传统的信道建模相比,新兴的先进天线技术又会带来另一挑战。当测试人员需要完整理解系统性能时,在动态场景中对系统进行测试必不可少。

能够应对这些挑战的有效测试方法,必须使用可支持各种先进天线技术的几何信道建模。它还必须能够以实时方式运行动态场景。最后,这种测试方法还必须能够可靠、高效地创建八天线系统中双向MIMO信道的所有细节,并且能够在紧凑的尺寸中实现这些功能。

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