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如何利用嵌入式仪器调试SoC?

时间:2016-06-13  来源:扁平线圈电感厂家  点击:

  随着系统级芯片(SoC)的复杂度不断提高,软、硬件开发融合所带来的挑战已经不可小觑。这些功能强大的系统现在由复杂的软件、固件、嵌入式处理器、GPU、存储控制器和其它高速外设混合而成。更高的功能集成度与更快的内部时钟速度以及复杂的高速I/O相结合,意味着提供正常运行、并经过全面验证的系统比以前变得更难。

  传统上,软件验证和调试及硬件验证和调试一直是两个不同的世界。通常情况下,软件团队和硬件团队各自为政,前者专注于编程模型内部的软件执行,后者则在硬件开发框架内进行调试,其中时钟周期精度、并行运行及调试数据回溯原始设计的关系是关键。理论上,经过全面调试后,软件和硬件应无差错地协同运行。但在实际环境中,无差错协同运行的情况不多,正因如此,经常会导致关键成本上升及产品开发周期延误。

  为在合理的成本和时间范围内实现更高的集成度,业界必须转向新的方法:设计的洞察。换句话说,如果我们想能够高效地持续验证和调试这些系统,工程师们必须提前设计成能够提供全面的系统视图。其中的关键是能够了解涵盖硬件领域和软件领域的各种行为之间的临时关系。本文介绍了使用嵌入式仪器调试SoC的一种方法,说明了通过整合硬件调试视图和软件调试视图,可以更快、更高效地调试整个系统。

  构建测试台

  图1所示的SoC 由一块32位RISC指令集处理器及一条AMBA APB外设总线组成,处理器连接到AMBA AHB系统总线上。SoC还包含一个DDR2存储控制器、一个千兆位以太网网络适配器、一个Compact Flash控制器、VGA控制器及多个低速外设接口。SoC运行Debian GNU Linux操作系统第4版,这一操作系统运行v2.6.21内核。处理器核心工作频率为60MHz,DDR存储控制器工作频率为100MHz,其它I/O 外设在33MHz~12MHz之间的基本频率上运行。整个SoC在Virtex-5开发板卡上实现。

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