CMOS图像传感器集成A/D转换器技术的研究

　　目前用于象素级的A/D转换器主要有Fowler[4]提出的过采样Sigma-Delta结构A/D转换器和Yang提出的Multi–Channel–Bit–Serial(MCBS)结构A/D转换器.

2.3.1 精简型过采样Sigma Delta结构A/D转换器
　　过采样Sigma-Delta A/D转换器的特点是模拟部分比例少，精度要求低，（减小了Vdd波动，器件匹配，KT/C噪声对电路性能的影响)，数字部分比例大，比较适宜用标准CMOS工艺实现。一阶过采样Sigma-Delta的结构简单、速度低、精度高，恰好满足了图像传感器对象素级A/D转换器的要求。一阶过采样Sigma-Delta结构A/D转换器原理如图7所示。 信息来源:http://tede.cn

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　　输入信号过采样后经过积分器积分，然后通过量化器反馈回输入端，同时输出量化后的数字信号，数字信号经过梳状滤波器降频到Nyquist频率。

模压电感器

　　Fowler利用Sigma-Delta A/D转换器得思想对传统Sigma-Delta A/D转换器进行改进，精简了电路，提出的CMOS象素级集成的精简型Sigma-Delta A/D转换器电路。
　　它的一个单元采用了四个光电检测器和一个象素级A/D转换器，并且通过17只管子来实现。工作时，由于感光后光电二极管产生了光电荷，光电荷储存在光电二极管节电容中产工字电感生了节点电压，转换器通过被复选器选中一个光电二极管，被选光电二极管的节电压通过受时钟控制比较器被量化。
　　该设计中比较器工作于亚阈值区以减少功耗和噪声，增加增益，并且减小D/A转换器中的漏电流。偏置电流也被设置成能够够完成所需要采样率的足够小值，。这一位的D/A转换器是通过一个模拟信号移位寄存器来实现。
　　电感器厂家于数字部分比较复杂，占用的面积大，Fowler只把Sigma-Delta A/D转换器的模拟部分集成与图像传感器芯片中，而把数字部分放在片外。这种做法缩小了芯片面积，但是过采样会导致输出数据量巨大，由于数字部分设置在片外，这样对于大尺寸或者高速CMOS图像传感器芯片，需要很高的I/O带宽，所以限制了它的应用范围。
　　2.3.2 MCBS结构A/D转换器
　　传统的位并行(bit parallel)和位串行(bit serial)A/D转换技术在面积，功耗上的限制无法做为象素级集成的A/D转换器使用。1998年Stanford 大学的学者David Yang提出了第一种Nyquist率的MCBS(multi-channel-bit serial) 结构的象素级A/D转换器，它的采样频率只有信号频率的2倍，所以不会有信号输出数据量过大的问题。它由电感器q值象素单元电路和芯片级电路组成，每一个象素单元采用了一个比较器和一个锁存器构成。而所有象素单元共用一个有限状态机电路和一个M位的DAC电路。 信息请登陆:输配电设备网

　　转换原理是通过研究编码表找出各位的规律，以对一个在0～1之间的输入信号进行3位的GRAY码为例，判断MSB位只需将输入信号与1/2进行比较，判断LSB位需要将信号与1/8,3/8,5/8,7/8进行比较。这种比较在并行结构A/D一体电感里是以同时比较的方式实现。我们这里通过多时钟实现对各位的串行比较。
　　通过有限状态机提供的一个台阶上升的RAMP信号与输入模拟信号经过多时钟周期的串行多位比较，3位精度的A/D转换器，求出最高位需要一个时钟周期，求出次高位需要二个时钟周期，最低位需要四个时钟周期，各位的结果送入由有限状态机提供的BITX信号控制的锁存器并串行输出。MCBS结构A/D转换器通过多周期的复用技术来来模拟全并行A/D转换器中的电阻分压与输入模拟信号的多位的并行比较，从而极大减小了A/D转换器面积，并且可以采用稳定的简单电路来实现。

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有没有知道SY50135，OB2530T PIN对PIN的芯片




你这两个IC都是pin to pin的，还要找第三款备用啊？


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